Detailseite
Projekt Druckansicht

Dual-Beam Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop

Fachliche Zuordnung Geophysik und Geodäsie
Förderung Förderung in 2009
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 126074464
 
Erstellungsjahr 2016

Zusammenfassung der Projektergebnisse

Die in den letzten drei Jahren mit dem neu installierten FIB System im den Bereich der Materialuntersuchung / -charakterisierung durchgeführten Projekte sind im Folgenden kurz aufgeführt. 1. Novel intermetallic BiCo compounds 2. Pillar indentation splitting / measuring fracture toughness 3. Residual stress measurements 4. Grain boundary characteristics in a tungsten crystal 5. FIB TEM lamella preparation of thermoelectric Al-doped ZnO thin films: crystal orientation and local strain mapping using ASTAR 6. Pt contacts for electrical testing ion conductors 7. TEM lamella sample preparation 8. EBSD on polycrystalline Bi-doped ZnO 9. FIB Praktika

Projektbezogene Publikationen (Auswahl)

 
 

Zusatzinformationen

Textvergrößerung und Kontrastanpassung