Hochauflösendes Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit KL-Zusatz

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2008
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 84170586

Für ein umfassendes Verständnis komplexer Halbleiter-Heterostrukturen und der zugrunde liegenden Physik ist eine systematische Analyse und Korrelation der strukturellen, chemischen, elektronischen und optischen Eigenschaften auf Mikro- bzw. Nanoskala zwingend erforderlich, wobei hochauflösenden Untersuchungsmethoden mit direkter Korrelationsmöglichkeit besonders große Bedeutung zukommt. Auf der Grundlage langjähriger eigener Arbeiten zur SEM-Kathodo- und Photolumineszenz sowie umfangreichen Erfahrungen der Arbeitsgruppe auf dem Gebiet der Realstrukturanalyse mittels analytischem TEM erwartet der Antragsteller mit der Adaption eines KL-Analysesystems an ein hochauflösendes STEM einen signifikanten Erkenntnisgewinn. Gestützt wird das Projekt der direkten Korrelation struktureller und optischer Eigenschaften an elektronentransparenten TEM-Präparaten durch positive Erfahrungen internationaler Arbeitsgruppen sowie eigener exemplarischer Untersuchungen an Partnereinrichtungen in Deutschland und den USA. Die an der Uni Magdeburg zur Verfügung stehende Gerätetechnik erlaubt derartige Untersuchungen derzeit grundsätzlich nicht.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5100 Elektronenmikroskope (Transmission)
• Antragstellende Institution: Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg
• Leiter: Professor Dr. Jürgen Christen