IC-Testsystem - Schaltkreissystem

• Fachliche Zuordnung: Elektrotechnik und Informationstechnik
• Förderung: Förderung in 2008
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 81180000

Gerät dient zur in-System-Testung von digitalen und Mixed-Signal Systemen- Die Professur Schaltkreis und Systementwurf (SSE) will dafür Testprogramme erstellen und zur Charakterisierung von anwendungsspezifischen Schaltkreisen (ASIcs) nutzen- außerdem Entwicklung von Loadboards- dadurch Aufbau weiterer Kompetenz auf dem Gebiet des Test / testfreundlichen Entwurfs- Vorteil: Verringerung der Time-to-Market- Gerät wird über das Zentrum für Mikrotechnologien anderen Instituten und Professuren zur Verfügung gestellt.- Erweiterung für MEMS-Test (Testung kompletter Mikrosysteme) möglich- Ausbau der Forschungsschwerpunkte in Richtung Automotive Test

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 7330 Meß- und Prüfautomaten, Logikprüfgeräte
• Antragstellende Institution: Technische Universität Chemnitz
• Leiter: Professor Dr.-Ing. Ulrich Heinkel