Röntgendiffraktometer

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung von 2008 bis 2011
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 66905772

Der Lehrstuhl für Kristallographie und Strukturphysik an der Universität Erlangen-Nürnberg hat in den vergangenen Jahren stetig wachsende Aktivitäten auf dem Gebiet der Erforschung von dünnen Schichten und Grenzflächeneigenschaften entwickelt (fest-flüssig Grenzschichten, dielektrische Schichten, nanokristalline Coatings, etc.). Diese Aktivitäten werden von Reflektometriemessungen getragen, und deren Umfang wird in Zukunft noch ansteigen. Die weitergehende Forderung nach Diffraktion unter streifendem Einfall können wir heute nicht erfüllen. In der Vergangenheit basierten diese Aktivitäten zum großen Teil auf der Neutronenstreuung. Ergänzende in-house Röntgenmessungen wurden an einem X’Pert Diffaktometer in Bragg Brentano Geometrie durchgeführt. Dieses ist aber mittlerweile vollkommen überlastet, da es entsprechend seiner eigentlichen Bestimmung für eine Vielzahl von Pulveruntersuchungen verwendet wird. Dieser Engpass ist insbesondere in der Vorlesungszeit gravierend, da das XPert dann auch für Praktika benötigt wird. Wegen der starken Nutzung kann das X’Pert nur für Standard-Reflektometriemessungen mit Cu-Strahlung (8keV) verwendet werden, aufwendige Messungen mit komplexen Probenumgebungen verbieten sich. Da wesentliche Untersuchungen an vergrabenen Schichten, bzw. in invertierter Probengeometrie durch eine Trägerschicht hindurch gemacht werden müssen, ist eine Option für kurze Wellenlängen unerlässlich (Mo Strahlung mit 17 keV).

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 4010 Einkristall-Diffraktometer
• Antragstellende Institution: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
• Leiter: Professor Dr. Andreas Magerl