Kinetische Eigenschaften der Phasengrenze zwischen festen Sauerstoffionenleitern und Sauerstoffplasmen
Zusammenfassung der Projektergebnisse
Das Projekt „Kinetische Eigenschaften der Phasengrenze zwischen festen Sauerstoffionenleitern und Sauerstoffplasmen“ hat zur Entwicklung einer ionenleitende Plasmasonde geführt, deren Signal kontrolliert je nach den Betriebsbedingungen sowohl identisch mit dem Signal einer metallischen Sonde sein kann als auch eine spezifische Charakteristik zeigen kann. So wie mit Hilfe ionenleitender Sonden elektrische Signale zur Diagnostik gewonnen werden können, so können andersherum auch an Ionenleiter angelegte Potentiale zum „Pumpen“ von ionischen bzw. atomaren Spezies in Plasmen genutzt werden. Der grundlegende Effekt konnte gemeinsam mit den Partnern an der Uni Greifswald demonstriert werden. Darüber wurde das Projekt zum Ausgangspunkt von einer ganzen Reihe neuer und vielversprechender Projekte – der Entwicklung von Festkörperionenquellen als neuem Konzept für Ionentriebwerke, der Untersuchung von Grenzflächen zwischen ionischen Flüssigkeiten und Plasmen, sowie der Untersuchung von Degradationsprozessen von oxidischen Elektroden in den Entladungen von Plasma- Bildschirmen.
Projektbezogene Publikationen (Auswahl)
- Electrochemistry in plasmas - The application of gaseous electrodes in materials science. Proc. 16th Iketani Conference on “Electrochemistry and Thermodynamics of Materials Processing for Sustainable Production/Masuko Symposium”, Hrsg.: S. Yamaguchi, Tokyo, Japan, (2006) 599-625
M. Rohnke, H. Reinshagen and J. Janek
- Plasma-Electrochemical Deposition of Nanoscale Metals and Semiconductors in Ionic Liquids. ChemPhysChem. 8 (2007) 50-53
S. A. Meiss, M. Rohnke, L. Kienle, S. Z. El Abedin, F. Endres, and J. Janek
- Ion-conducting probes for low temperature plasmas. Contributions to Plasma Physics 48 (5-7) (2008) 473-479
S. A. Meiss, M. Rohnke, F. Rettig, R. Moos, and J. Janek
- Realization of high luminous efficacy at low voltages in the plasma display panel with SrO-MgO double layer. IEEE Electron Devices Letters 31(7) (2010) 686-688
H. Y. Jung, T. H. Lee, O. Y. Kwon, H. W. Cheong, S. O. Steinmüller, J. Janek, K. W. Whang