Theoretical an experimental investigation of noise in advanced SiGe BiCMOS process technologies

• Antragsteller: Professor Dr.-Ing. Michael Schröter
• Fachliche Zuordnung: Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
• Förderung: Förderung von 2005 bis 2009
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5445768

Keine Zusammenfassung vorhanden

• DFG-Verfahren: Sachbeihilfen