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Auswirkung Ausgedehnter Defekte auf die Optoelektronischen Eigenschaften Neuartiger 2D Materialien (B09*)

Fachliche Zuordnung Physikalische Chemie von Festkörpern und Oberflächen, Materialcharakterisierung
Förderung Förderung seit 2024
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 417590517
 
Ziel des Projektes wird es sein, ein umfassendes Verständnis über die Rolle von ausgedehnten strukturellen Defekten in organischen 2D Halbleitern auf angeregte Ladungsträger und deren Wechselwirkung mit externer Belastung für eine mögliche Anwendung in der Optoelektronik zu entwickeln. Um dieses Ziel zu erreichen, ist die Optimierung und Erweiterung eines ex- und in-situ-Ansatzes der elektrischen Rasterkraftmikroskopie (engl.: atomic force microscopy (AFM)) und Lumineszenzmikroskopie vorgesehen.
DFG-Verfahren Sonderforschungsbereiche
Antragstellende Institution Technische Universität Dresden
Teilprojektleiterin Dr. Ilka Hermes
 
 

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