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Identifikation funktionsrelevanter elektronischer Zustände an inneren Grenzschichten perowskitischer Strukturen

Fachliche Zuordnung Experimentelle Physik der kondensierten Materie
Förderung Förderung von 2003 bis 2007
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5470500
 
Die besonderen funktionellen Eigenschaften von magnetoelektronischen Bauelementen auf Basis von nanoskaligen Perowskitschichten sind häufig durch die Ladungverteilung an dünnen Grenzschichten bestimmt. Ziel des Forschungsvorhabens ist es, mit speziellen Methoden der Rastersondermikrsokopie die Verteilung der relevanten Strukturen und elektronischen Zustände direkt an diesen inneren Grenzflächen zu bestimmen. Die Kenntnis der lokalen Zustandsdichte, der Defekte und deren lokaler Feldumzug wird die Basis für eine wesenlich realistischere theoretische Modellierung bereitstellen und damit eine Verbesserung des grundlegenden elektrischen und ferromagnetischen Verhaltens solcher Bauelemente ermöglichen. Speziell sollen an Lanthan-Strontium-Manganat/Strontiumtitanat-Multischtsystemen mit Kelvin-Krafmikroskopie und lichtunterstützter Rastertunnelmikroskopie die lokalen Grenzflächenpotentiale im thermischen Gleichgewicht und unter optischer Anregung vermessen werden, um Grenzflächenzustandsdichten, -defekte und -raumlandungen zu charakterisieren. Die rastersondenmikroskopischen Messungen werden im Rahmen der Forschergruppe FOR 520 durch Untersuchungen mit lateral höchstaufgelöster analytischer Transmissionselektronenmikroskopie ergänzt (Elekronenenergieverlustspektroskopie zur Bestimmung der elektronischen Zustände, insbesondere der Ladungszustände der Mn-Ionen)
DFG-Verfahren Forschungsgruppen
Beteiligte Person Professor Dr. Lukas M. Eng
 
 

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