Analyse von Fehlermechanismen komplexer Systeme in Modenverwirbelungskammern und TEM-Feldgeneratoren

• Antragsteller: Professor Dr. Jürgen Nitsch
• Fachliche Zuordnung: Elektrische Energiesysteme, Power Management, Leistungselektronik, elektrische Maschinen und Antriebe
• Förderung: Förderung von 2001 bis 2008
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5467826

Im Rahmen dieses Projektes soll der Einfluß verschiedener EMV-Testumgebungen auf die Störschwellen und auf das Fehlerverhalten von komplexen technischen Systemen untersucht werden. Voruntersuchungen haben gezeigt, dass aufgrund der Verschiedenartigkeit der Feldverhältnisse in Modenverwirbelungskammern einerseits und TEM-Feldgeneratoren andererseits sowohl mit quantitativen als auch mit qualitativen Abweichungen gerechnet werden muss [1,2,3]. Hierzu sollen umfassende Tests durchgeführt werden, bei denen insbesondere auch die Parameter der Signalmodulation über einen großen Bereich variiert werden sollen. Diese Untersuchungsphase hat den Zweck, die real auftretenden Effekte klar darzulegen und zu klassifizieren. In der zweiten Phase sollen die klassifizierten Effekte mathematisch beschrieben werden. Prinzipbedingt sind die Felder am Ort des Prüflings in Modenverwirbelungskammern auch dann amplitudenmoduliert, wenn ein unmoduliertes Signal am Eingang anliegt. Die Auswirkungen dieser ungewollten Amplitudenmodulation auf Prüflinge kann dann mittels der gefundenen mathematischen Modelle systematisch analysiert werden. In einer dritten Phase sollen die Fehlermechanismen, die sich in den verschiedenen Modellen widerspiegeln, durch möglichst einfache Schaltungen nachempfunden werden. Hierdurch können die Effekte leicht isoliert demonstriert und in verschiedenen Testumgebungen analysiert werden.[1] Braun, Ch., P. Guidi, H.U. Schmidt, A. Taenzer, H.G. Krauthäuser und J. Nitsch: Messung von Ausfall-Schwellwerten an modernen Hochgeschwindigkeits- Prozessor-Platinen mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen und in Moden-Verwirbelungs-Kammern. In: Elektromagnetische Verträglichkeit EMV 2000, Seiten 573-580, Düsseldorf, Germany, 2000. [2] Jansson, L. und M. Bäckström: Directivity of equipement and its effect on testing in mode-stirred and anechoic chamber. In: Proc. IEEE Int. Symp. on EMC, Seiten 17-22, Seattle, 1999. [3] Krauthäuser, H.G. und J. Nitsch: Characterization of mode-stirred chambers in the time domain. In: Proceedings of the International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Seiten 389-392, Magdeburg, 1999.

• DFG-Verfahren: Forschungsgruppen
• Teilprojekt zu: FOR 417: EMV bei elektrotechnologischen Prozessen mit gepulsten Leistungen