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Zweidimensionale physikalische Simulation von InP-basierten Single-(S-) und Double-(D-) Heterostruktur-Bipolartransistoren

Subject Area Electronic Semiconductors, Components and Circuits, Integrated Systems, Sensor Technology, Theoretical Electrical Engineering
Term from 2001 to 2003
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5296862
 
Im Rahmen dieses Forschungsvorhabens sollen Heterostruktur-Bipolartransistoren (HBT) auf Indiumphosphid (InP) mit Hilfe eines physikalischen zweidimensionalen Bauelementsimulationsprogramms untersucht werden. Hierbei sollen alle relevanten Technologieeffekte wie beispielsweise die Verarmung freier Oberflächen, ätzprozessbedingte Verengung von Stromkanälen sowie Temperatureffekte berücksichtigt werden. Ziel des Projektes ist es, systematisch Bauelementstrukturen zu finden, die sowohl in bezug auf das laterale als auch bzgl. des Schichtdesigns optimiert sind. Die gewonnenen Erkenntnisse sollen als allgemeingültige Entwurfsgrundlage (Design-Rules) zur Herstellung von höchstfrequenztauglichen HBTs dienen. Ausgeführt werden alle simulationstechnischen Untersuchungen mit Hilfe eines kommerziell erhältlichen Software-Paketes, bei dem die für III-V-Halbleiter relevanten physikalischen Modellparameter erarbeitet werden müssen, so daß die erzielten Simulationsergebnisse mit Meßergebnissen von realen Bauelementen übereinstimmen.
DFG Programme Research Grants
Participating Person Professor Dr. Franz-Josef Tegude
 
 

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