Grundlagen für die in situ Charakterisierung von Gruppe-IV- Halbleitergrenzflächen mittels nichtlinear-optischer Spektroskopie

Antragsteller Professor Dr. Heinrich Kurz (†)

Fachliche Zuordnung Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik

Förderung Förderung von 1996 bis 2001