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Projekt
300kV Cs-korrigiertes Transmissionselektronenmikroskop
Fachliche Zuordnung
Physik der kondensierten Materie
Förderung
Förderung in 2022
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 466823680
Bei dem hier beantragten Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) mit monochromatisierter Elektronenquelle handelt es sich um ein Mikroskop mit Höchstauflösung. Aufgrund der korrigierten sphärischen Aberration sind strukturelle und analytische Untersuchungen mit subatomarer Auflösung möglich und das Gerät wird vor allem im Bereich der festkörperbasierten Grundlagenforschung zur Anwendung kommen. Verschiedene Detektoren (ABF, HAADF, DPC, etc.) für Hell- und Dunkelfeldabbildungen erlauben im STEM Modus die zuverlässige Bestimmung der Kristallzusammensetzung und -struktur (4DSTEM) sowie elektrischer Felder auf atomarer Skala. Mittels der EDX- und EELS- Systeme (mit low-dose Option) sollen detaillierte Untersuchungen hinsichtlich der chemischen Elemente, der elektronischen Struktur und Bindungszustände sowie elektronischer Anregungen in komplexen Materialen und (empfindlicher) Nanostrukturen, wie sie in den Ingenieur- und Naturwissenschaften der TU Chemnitz eine zentrale Rolle spielen, durchgeführt werden. Die Optimierung der Gerätekonfiguration erfolgt im Hinblick auf höchste Auflösung, bestmögliche Nachweisempfindlichkeit der integrierten Analysesysteme (EDX, EELS), die Arbeitsmöglichkeiten mit empfindlichen Proben sowie die komplexe Datenerfassung beim Rastern über Probenbereiche (4DSTEM).
DFG-Verfahren
Forschungsgroßgeräte
Großgeräte
300kV Cs-korrigiertes Transmissionselektronenmikroskop
Gerätegruppe
5100 Elektronenmikroskope (Transmission)
Antragstellende Institution
Technische Universität Chemnitz
