Plattform zur oberflächenanalytischen Charakterisierung: Röntgen-Photoelektronen-spektroskopie (XPS) und Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) (Z01)

• Fachliche Zuordnung: Chemie
• Förderung: Förderung von 2016 bis 2020
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 259079535

Die Oberflächenanalytikplattform kombiniert XPS und komplementäre ToF-SIMS mit Argon-Clusterionen-Tiefenprofilierung, um quantitativ einzelne Reaktionsschritte organischer Syntheserouten auf diversen Substraten bis hin zu 3D-Strukturen in hoher lateraler Auflösung nachzuweisen. Für alle Teilprojekte der Bereiche B und C werden individuelle Vorgehensweisen adaptiert, um methodeninduzierte Substratschädigung zu vermeiden. Bei Bedarf ergänzen NEXAFS und FE-REM die Ergebnisse. Die Plattform liefert chemische Nachweise für erreichte geometrische und chemische Strukturierungen bzw. Modifizierungen.

• DFG-Verfahren: Sonderforschungsbereiche
• Teilprojekt zu: SFB 1176: Molekulare Strukturierung weicher Materie
• Antragstellende Institution: Karlsruher Institut für Technologie
• Teilprojektleiter: Dr. Michael Bruns; Professor Dr. Helmut Ehrenberg; Professor Dr. Christof Wöll