Kombination von On-Line-Test und Selbstreparatur für hoch-zuverlässige Prozessorbasierte Nano-Elektronische Systeme

• Antragsteller: Professor Dr. Mario Schölzel; Professor Dr.-Ing. Heinrich Theodor Vierhaus
• Fachliche Zuordnung: Rechnerarchitektur, eingebettete und massiv parallele Systeme
• Förderung: Förderung von 2013 bis 2020
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 241890970

Die deutsche und europäische Industrie (Automobil, Luftfahrt, Verkehrssysteme, industrielle Steuerungen) benötigt prozessorbasierte elektronische Systeme zur Ausführung verschiedenster Anwendungen. Die Prozessoren in Kombination mit der ausgeführten Anwendung müssen oft eine hohe Zuverlässigkeit und eine lange Lebensdauer bieten. Da die Zuverlässigkeit und die Lebensdauer nano-elektronischer Bauelemente allein diesen Anforderungen nicht entspricht, müssen integrierte digitale Systeme sowohl für eine Fehlererkennung und Fehlerkorrektur in Echtzeit als auch für den Ersatz ausgefallener Baugruppen mittels Reparaturfunktionen ausgestattet sein. Die Kombination von hardwarebasierter On-Line Fehlererkennung und softwarebasierter Off-Line Reparaturfunktionen in einer gemeinsamen Methodik, welche die verfügbaren Ressourcen optimal nutzt, ist deshalb naheliegend, aber nach unseren Kenntnissen bisher nie systematisch untersucht und entwickelt worden. Ziel des Vorhabens ist es, diese Funktionen gemeinsam in einem prozessorbasierten System so zu organisieren, dass der benötigte Zusatzaufwand an redundanten Baugruppen minimal bleibt und eine wirtschaftliche Verwendung des Verfahrens erlaubt.

• DFG-Verfahren: Sachbeihilfen