Hochauflösendes Dünnschicht-Röntgendiffraktometer

• Fachliche Zuordnung: Chemische Festkörper- und Oberflächenforschung
• Förderung: Förderung in 2013
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 228716244

Moderne und innovative Materialforschung erfordert einen hohen analytischen Standard. Hierbei ist die eindeutige Bestimmung der kristallographischen Identität der hergestellten Materialien unerlässlich, um Struktur-Eigenschafts-Beziehungen aufzuklären, die eine zielgerichtete Entwicklung und Verbesserung der Materialien ermöglichen. Für dieses Ziel werden hochauflösende und leistungsfähige Röntgendiffraktometer benötigt. Zum einen ermöglicht das von der DFG geförderte Dünnschicht¬diffraktometer die Bestimmung der Phasenidentität der mittels moderner Verfahren hergestellten Schichten und die Korrelation mit den beobachteten physikalisch-chemischen Eigenschaften. Zusätzlich bietet die Bestimmung der kristallographischen Orientierung sowie der Verspannungseffekte die Möglichkeit, Prozessparameter bei der Dünnschichtherstellung zu optimieren. Zum anderen können mit dem von der DFG geförderten Röntgenpulverdiffraktometer in Kombination mit einer Reaktionskammer zusätzlich zur routinemäßigen Röntgenanalytik Materialien unter den technisch relevanten Bedingungen getestet werden. Hierbei sind für Energiespeichermaterialien elektrochemische Experimente und für heterogene Katalysatoren die Untersuchung von Gas-Fest-Reaktionen bei definierter Temperatur und unter definierten Gasatmosphäre von besonderem Interesse. Diese Untersuchungen ermöglichen einen tieferen Einblick in die mechanistischen Prozesse bei Elektrodenmaterialien unter den verschiedensten Bedingungen und lassen dadurch eine optimierte Materialentwicklung auf den genannten Anwendungsbereichen zu.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 4011 Pulverdiffraktometer
• Antragstellende Institution: Justus-Liebig-Universität Gießen
• Leiter: Professor Dr. Jürgen Janek