Rastersondenmikroskop

• Subject Area: Condensed Matter Physics
• Term: Funded in 2010
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 176001701

Für die von den Antragstellern durchgeführten und geplanten Projekte, wie z.B. der Untersuchung von Fasermaterialien, Faserverbundwerkstoffen und photovoltaischen Zellen, ist die Analyse der Topographie von Oberflächen sowie die Untersuchung der mikromechanischen und thermischen Eigenschaften mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich erforderlich. Die notwendigen Spezifikationen sind durch die Vereinigung von Rasterkraftmikroskopie zur Topographiebestimmung, HarmoniX Modul für die Messung des E-Modul, Scanning Thermal Microscopy (SThM) und nanoTA zur Analyse von thermischer Leitfähigkeit und Glas- bzw. Schmelztemperaturen sowie Nanoindentation zur Härtemessung in einem Gerät erreichbar. Die Bestimmung der beschriebenen Größen ist an ein und derselben Stelle der Probe möglich. Auch eine Kartographierung der Eigenschaften kann durchgeführt werden, je nach verwendetem Messmodul mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich (AFM, HarmoniX) bzw. im sub 100nm-Bereich (nanoTA, SThM, Indenter).

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Instrumentation Group: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Applicant Institution: Universität Augsburg
• Leader: Professor Dr. Siegfried Rüdiger Horn