Rastersondenmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2010
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 176001701

Für die von den Antragstellern durchgeführten und geplanten Projekte, wie z.B. der Untersuchung von Fasermaterialien, Faserverbundwerkstoffen und photovoltaischen Zellen, ist die Analyse der Topographie von Oberflächen sowie die Untersuchung der mikromechanischen und thermischen Eigenschaften mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich erforderlich. Die notwendigen Spezifikationen sind durch die Vereinigung von Rasterkraftmikroskopie zur Topographiebestimmung, HarmoniX Modul für die Messung des E-Modul, Scanning Thermal Microscopy (SThM) und nanoTA zur Analyse von thermischer Leitfähigkeit und Glas- bzw. Schmelztemperaturen sowie Nanoindentation zur Härtemessung in einem Gerät erreichbar. Die Bestimmung der beschriebenen Größen ist an ein und derselben Stelle der Probe möglich. Auch eine Kartographierung der Eigenschaften kann durchgeführt werden, je nach verwendetem Messmodul mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich (AFM, HarmoniX) bzw. im sub 100nm-Bereich (nanoTA, SThM, Indenter).

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Universität Augsburg
• Leiter: Professor Dr. Siegfried Rüdiger Horn