Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Strömungsmechanik, Technische Thermodynamik und Thermische Energietechnik
• Förderung: Förderung in 2010
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 137051741

„Das hier beantragte hochauflösende Rasterelektronenmikroskop soll zur Charakterisierung derMorphologie und Mikrostruktur nanokristalliner Partikel, Materialien und dünner Schichten sowie zuderen Elementaranalyse dienen. Fast alle zu untersuchenden Proben sind Oxide, also meistIsolatoren. Bei sehr geringen Beschleunigungsspannungen kann die Aufladung der Proben vermiedenund dennoch Strukturinformation mit extrem hoher Auflösung erhalten werden, ohne zuvor störendeleitfähige Beschichtungen auf den Proben abzuscheiden. Zusätzlich werden so Strahlungsschädenminimiert. Ein relativ hoher Druck in der Probenkammer ist eine alternative Möglichkeit, Aufladungenzu vermeiden. Verschiedene Detektoren (BSE und EDX) liefern ortsaufgelöst semiquantitativeInformation über die Zusammensetzung der Proben. Ein STEM-Detektor mit Hell/Dunkelfeldanalyseermöglicht die Untersuchung von Nanopartikeln. Da sich unser Fachgebiet mit Nanopartikeln undNanomaterialien beschäftigt, stellt ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop einaußerordentlich wichtiges Oharakterisierungswerkzeug dar. Ohne ein solches Instrument ist eingrundlegendes Verständnis der Beziehung zwischen der Mikrostruktur und den Eigenschaften derNanomaterialien hinsichtlich der Mikrostruktur unmöglich. Dabei ist ein direkter, schneller Zugangwichtig, da nur so effektiv mit dem Wissen der Probenvorgeschichte und durch Kombination mitanderen Strukturuntersuchungsmethoden die relevante Information in einem vernünftigen Zeitraumerhalten werden kann.“

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Antragstellende Institution: Universität Duisburg-Essen
• Leiter: Professor Dr. Markus Winterer