Raman-AFM-Mikroskopsystem

• Subject Area: Physical Chemistry
• Term: Funded in 2007
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 61458305

Da wir in den laufenden und geplanten Forschungsvorhaben unseres Instituts eine Vielzahl nanostrukturierter Materialien wie z. B. Core-Shell-Nanoteilchen, Kohlenstoff-Nanoröhrchen, Kolloide, Flüssigkristalle, Membranen, selbstorganisierende Schichten und keramische Beschickungen untersuchen, ist es von großem Interesse, diese mit einer hohen lateralen Ortsauflösung möglichst zerstörungsfrei und umfangreich charakterisieren zu können. Unter diesen Gesichtspunkten bieten sich die Raman-Spektroskopie für die Gewinnung chemischer Informationen (Zusammensetzung, Kristallinität, Modifikation, Homogenität) und die Rasterkraftmikroskopie (AFM) zur Untersuchung der Topographie an. Die Empfindlichkeit des vorhandenen Fourier-Transform- Ramangeräts (Bruker RFS100) reicht für die oft sehr dünnen Proben bzw. Schichten nicht aus, ein AFM ist am Institut nicht vorhanden.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Instrumentation Group: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Applicant Institution: Universität Stuttgart
• Leader: Professor Dr. Helmut Bertagnolli