Scherkraft-Rasterkraftmiskoskop

• Fachliche Zuordnung: Physikalische Chemie
• Förderung: Förderung in 2007
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 55231715

Die Arbeitsgruppe befasst sich mit der Miniaturisierung chemischer und biotechnischer Prozesse. Hintergrund dafür ist der Einsatz von Reaktoren im Chipformat und insbesondere für Volumina im unteren Mikro- und Nanoliterbereich. Das AFM-Gerät soll zur Charakterisierung von metallischen und oberflächenmodifizierten dielektrischen Nanopartikeln sowie Makromolekülen und Molekül-Nanopartikel-Addukten eingesetzt werden. Spezielle Zielsetzung ist die Anwendung der Rastersondentechnik auf die Analyse von Proben aus mikroreaktionstechnischen Präparationen, die auf ebenen Festkörperoberflächen abgelegt werden. Insbesondere sind Untersuchungen an Polymernanopartikeln sowie organisch und biomolekular modifizierten Metallnanopartikeln vorgesehen. Außerdem soll das Gerät zur Charakterisierung von Oberflächen von Mikroreaktoren eingesetzt werden.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Technische Universität Ilmenau
• Leiter: Professor Dr. Johann Michael Köhler