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Microscopie Investigation of Noise in SiGe Heterojunction Bipolar Transistors for Compact Medeling

Fachliche Zuordnung Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
Förderung Förderung von 2005 bis 2011
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5445774
 
Keine Zusammenfassung vorhanden
DFG-Verfahren Sachbeihilfen
 
 

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