Identifikation funktionsrelevanter elektronischer Zustände an inneren Grenzschichten perowskitischer Strukturen
Final Report Abstract
Die Ziele dieses Teilprojektes bestanden (1) in der Analyse elektronischer Defektzustände an inneren Perowskitgrenzflächen mittels photonengestützter integraler und nanoskaliger Spektroskopiemethoden und (2) in der rastersondenmikroskopischen simultanen Visualisierung ferromagnetischer und ferroelektrischer Domänen in einphasigen Multiferroika. Im Rahmen von Thema (1) wurden Grenzflächen verschieden dotierter Lanthanmanganatfilme zum SrTiO3-Substrat mittels Oberflächenphotospannungsspektroskopie untersucht und die Defektzustandsverteilung, die, wie im vorliegenden Projekt analysiert wurde, vom Substrat und nicht vom Film dominiert wird, innerhalb der SrTiO3-Bandlücke ermittelt. Darüber hinaus wurde ein leitfähiger elektronendotierter Zustand unter photonischer Anregung in reduzierten Cedotierten Lanthanmanganatfilmen gefunden und charakterisiert. Die beobachtete Photoleitfähigkeit beträgt bis zu 7 Größenordnungen und ist daher mit dem kolossalen Magnetwiderstandseffekt (CMR) vergleichbar. Im Rahmen von Thema (2) wurde die entkoppelte Visualisierung ferromagnetischer und ferroelektrischer Domänen durch simultane Anwendung von magnetischer und Kelvin- Kraftmikroskopie (MFM und KPFM) einerseits und Piezoresponse Force Microscopy (PFM) andererseits in einphasigen multiferroischen BiFeO3- und BiCrO3Dünnschichten erreicht. Die Arbeit wurde begleitet von theoretischen und experimentellen Untersuchungen zur quantitativen Auswertung der magnetischen Rasterkraftmikroskopie.
Publications
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