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Einfluß der Morphologie ultradünner Metallschichten auf elektrischen Transport und elektronische Anregungen
Antragsteller
Privatdozent Dr. Volkmar Zielasek
Fachliche Zuordnung
Experimentelle Physik der kondensierten Materie
Förderung
Förderung von 2001 bis 2008
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5314480
Der Zusammenhang zwischen Morphologie, elektronischem Transport und elektronischer Struktur zweidimensionaler epitaktischer Metallstrukturen soll mit einer Kombination aus elektrischen Leitfähigkeitsmessungen und hochpräziser energie- und impulsaufgelöster Elektronenbeugung studiert werden. Das ELS-LEED kann quantitative strukturelle Information wie Korngrößen und Stufen- und Punktdefektdichten liefern sowie elektronische Grenzflächenzustände nachweisen und Plasmomendispersion vermessen. Als Modellsystem sollen zunächst epitaktische Alkalimetallschichten auf Silizium-Unterlagen dienen und der Isolator-Metall-Übergang bei zunehmender Schichtdicke gleichzeitig über Leitfähigkeit und elektronische Anregungen verfolgt werden. Für Gitter atomarer Alkalimetallketten auf Si(100)-Unterlagen wird die Anisotropie von Oberflächenleitfähigkeit und -plasmonendispersion quantitativ bestimmbar. Ziel ist ferner, geschlossene Silber- und Molybdänschichten auf Saphir-Unterlagen herzustellen, den Einfluß der Körnigkeit solcher Metallschichten auf das Plasmonenspektrum zu ergründen sowie den erwarteten signifikanten Einfluß der Ober- und Grenzflächenmorphologie auf elektrischen Transport und elektronische Anregungen zu quantifizieren.
DFG-Verfahren
Sachbeihilfen
Beteiligte Person
Professor Dr. Martin Henzler