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Der Einfluß von Stufen auf die elektronische und geometrische Struktur von reinen Kupfer-Oberflächen mit Kobalt- und Chrom-Filmen

Fachliche Zuordnung Experimentelle Physik der kondensierten Materie
Förderung Förderung von 1998 bis 2002
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5159565
 
Dieses Projekt ist darauf ausgerichtet, Struktur-Wirkungs-Beziehungen zwischen ganz spezifischen nanoskopischen Strukturen und physikalischen Eigenschaften elektronischer und magnetischer Natur zu erforschen. Zu diesem Zweck wurden einkristalline Cu-Probenpaare mit gestuften (111)-Oberflächen präpariert. Dabei wurde die Geometrie so gewählt, daß Probenpaare mit identischer makroskopischer, jedoch verschiedenartiger nanoskopischer Struktur entstehen. Solche Oberflächen sind mittels Rastertunnelmikroskopie und Elektronenbeugung strukturell charakterisiert worden. Der Einfluß von regelmäßigen Stufen-Übergittern auf die elektronische Struktur ist mit Photoelektronenspektroskopie bestimmt worden. Eindimensionale Strukturen aus Co bzw. Ag konnten auf diesen Oberflächen präpariert werden. Die jetzt folgenden Schritte sind der Check auf ein ferromagnetisches Signal bei den Co-Filmen und die Bestimmung des Einflusses der Metallfilme auf die elektronische Struktur.
DFG-Verfahren Sachbeihilfen
 
 

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