UHV-Atomkraft-Mikroskop

• Subject Area: Physical Chemistry
• Term: Funded in 2007
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 50848330

Im Rahmen aktueller Forschungsprojekte beschäftigt sich die Arbeitsgruppe mit der Oberflächenstrukturierung aufgrund kinetischer Prozesse in Festkörpern. Die durch Volumenprozesse, wiePhasentrennung oder Phasenumwandlung, hervorgerufenen nanoskaligen Oberflächenreliefs lassensich dabei unmittelbar mit der Methode der Atomkraftmikroskopie charakterisieren. Das beantragteGerät ist eine Ersatzbeschaffung für ein Atomkraft-Mikroskop des Typs Nanoview mit dem die erstenUntersuchungen zur Oberflächenstrukturierung ausgeführt wurden. Da das Nanoview seit geraumerZeit defekt ist und vom Hersteller nicht mehr unterstützt wird, ist ohne eine Ersatzbeschaffung dieFortführung dieser aktuellen Forschungsrichtung, die Volumen- und Oberflächeneigenschaften miteinander verknüpft, nicht einmal unter Umgebungsbedingungen möglich. Die Beschaffung eines demheutigen Standard entsprechenden Instrumentes ist also eine notwendige Voraussetzung zurCharakterisierung und Modifikation von selbstorganisierten Nanostrukturen in entmischenden Systemenund modulierten Ferroelektrika. Für die vorgesehenen Untersuchungen ist ein leistungsfähigesGerät erforderlich, mit dem man in-situ bei hohen (Entmischungsstrukturen) und tiefen Temperaturen(ferroelektrische Nanodomänen) Oberflächenstrukturen sichtbar machen kann. Darüber hinaus solltedas zu beschaffende Gerät die Möglichkeit zur elektrostatischen Kraftmikroskopie und Kraftspektroskopie,sowie möglichst auch eine Einrichtung zur insitu Bedampfung der Oberflächen besitzen. DieseAnforderungen sind nur mit einem UHV-Atomkraftmikroskop zu erfüllen.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Instrumentation Group: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Applicant Institution: Georg-August-Universität Göttingen
• Leader: Professor Dr. Götz Eckold