FIB-Rasterelektronenmikroskop

• Subject Area: Physical Chemistry
• Term: Funded in 2019
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 417463648

Die Ausstattung des zu beschaffenden Geräts für hochauflösende Oberflächenuntersuchungen mittels Sekundär- und Rückstreuelektronen, Probenmanipulation mit FIB von 3D-Tomographie bis hin zur Herstellung von Proben für TEM-Untersuchungen, Untersuchung der TEM Lamellen mit STEM, hochauflösende EDX inkl. Elementmapping bis zu Li und 3D-Rekonstruktion, erlaubt eine umfassende Bearbeitung von Fragestellungen in der Oberflächen-, aber auch in der Tiefenanalyse verschiedenster materialwissenschaftlich relevanter (Nano-) Materialien wie z.B. Elektroden für neuartige Batterien, selbstorganisierende oxidische Nanostrukturen für den Einsatz in der Katalyse oder als Datenspeicher, Phasen für die Chromatographie etc. Die Modularität des Systems mit vielen Ausbaumöglichkeiten (WDX, EELS, Gaszuführungen zur Probenmanipulation) ermöglicht eine einfache Anpassung an zukünftige neue Fragestellungen. Der Fachbereich Chemie verfügt derzeit nur über ein hochauflösendes cryo-SEM, dass der FB im Gerätezentrum Elektronenmikroskopie des Wissenschaftlichen Zentrums für Materialwissenschaften betreibt. Es wird im Wesentlichen vom FB Chemie genutzt. Für die Elementaranalyse (EDX) steht dem FB aktuell nur ein Gerät in diesem Zentrum zur Verfügung. Tiefenanalyse wie Nanomanipulation mittels FIB und gleichzeitiger EDX in drei Dimensionen ist am FB derzeit nicht möglich. Das zur Verfügung stehende cryo-SEM verfügt nicht über EDX und kann auch nicht ohne weiteres aufgerüstet werden. Der FB Chemie hat 2014 einen Neubau bezogen. Die Mikroskopie soll als Serviceabteilung etabliert werden.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Major Instrumentation: FIB-Rasterelektronenmikroskop
• Instrumentation Group: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Applicant Institution: Philipps-Universität Marburg
• Leader: Professor Dr. Norbert Hampp