Akquisition, Modifikation und Darstellung von Reflektanzfeldern
Final Report Abstract
In dem Projekt wurden neue Methoden und Technologien erforscht, um die Reflexionseigenschaften von realen Objekten effizient zu erfassen, sie zu verändern und sogar wieder reproduzieren zu können. Es wurden zum ersten Mal dichte, adaptiv abgetastete Reflektanzfelder aufgenommen, die sogar für hoch glänzende und spiegelende Materialien eine photorealistische Reproduktion in neuer Beleuchtung erlauben. Ein weiterer Schwerpunkt lag in der Erforschung von Methoden zur Aufnahmen von spektral aufgelösten Reflexionseigenschaften. Hier wurde ein neues Modell und Aufnahmesystem zur präzisen Vermessung und Darstellung von fluoreszenten Materialien entwickelt. Es konnte gezeigt werden, dass auch die fluoreszente Reemission nicht-triviale winkelabhängige Lichtverteilungen produziert. Um Materialmessungen auch außerhalb des Labors durchführen zu können, wurden Techniken entwickelt, die aus unkontrolliert aufgenommenen Bildsequenzen die Geometrie, die einfallende Beleuchtung und die Reflexionseigenschaften sehr gut bestimmen können. Für die Interaktion mit realen Szenen wurde ein neuartiges VR/AR-System vorgestellt, dass in Echtzeit eine Modifikation der Oberflächeneigenschaften durch speziell kontrollierte Projektionsmuster simulieren kann. Außerdem wurden Techniken vorgestellt, die eine Reproduktion von Reflektanzfeldern erlauben, die sich dann in natürlichen Beleuchtungsverhältnissen so verhalten, wie das Orginalobjekt. Dem Ziel, reale Objekte und Szenen nicht nur als Foto zu konservieren, sondern alle optischen Eigenschaften zu erfassen und wiedergeben zu können, sind wir mit diesen Arbeiten deutlich näher gekommen. Bei der Durchführung der Forschung innerhalb der Emmy-Noether-Nachwuchsgruppe waren eine Vielzahl an Studierenden und Doktoranden und PostDocs beteiligt.
Publications
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Matthias B. Hullin, Hendrik P. A. Lensch, Ramesh Raskar, Hans-Peter Seidel, and Ivo Ihrke
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Johannes Hanika, Holger Dammertz, and Hendrik Lensch
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Masahiro Kitahara, Takahiro Okabe, Christian Fuchs, and Hendrik P. A. Lensch
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Jian Wei, Benjamin Resch, and Hendrik P.A. Lensch
(See online at https://doi.org/10.1109/CRV.2016.42)