Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop (FIB-REM)

• Subject Area: Materials Engineering
• Term: Funded in 2017
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 386509496

Die Forscherinitiative beantragt ein FIB-REM mit Systemen zur 3D-EBSD/3D-EDX-Analyse und integriertem Nanoindenter. Der Fokus der Anwendung liegt auf der Charakterisierung lokaler mikrostruktureller und mikromechanischer Eigenschaften von heterogenen Werkstoffen, Beschichtungen und Grenzflächen sowie Oberflächen-veränderungen infolge mechanischer, thermischer und korrosiver Beanspruchung. Für den Maschinenbau und das Bauingenieurwesen ist es essentiell, den Zusammenhang zwischen der Herstellung, der Beanspruchung, den betriebsrelevanten Veränderungen und den mikrostrukturbasierten Werkstoff- und Bauteileigenschaften im Sinne eines Prozess-Struktur-Eigenschaft-Verständnisses präzise zu ermitteln. Dank der gewählten Gerätekonfiguration des FIB-REMs kann das phasenspezifische Fließverhalten von Mikrostrukturelementen in-situ mit wissenschaftlicher Präzision erforscht und über die Erstellung von exakten Verformungs-, Schädigungs- und Lebensdauermodellen mit den makroskopischen Eigenschaften verknüpft werden. Die ortsauflösende Charakterisierung der Prozessauswirkung auf die Strukturbestandteile wird zu einem bedeutenden Erkenntnisgewinn beitragen, der bei der Entwicklung neuer Werkstoffsysteme und Technologien ebenso wie in der Modellierung und Simulation Anwendung finden wird.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Major Instrumentation: Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop (FIB-REM)
• Instrumentation Group: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Applicant Institution: Technische Universität Dortmund
• Leader: Professor Dr.-Ing. Frank Walther