Project Details
Projekt
Zweistrahl-Rasterelektronenmikroskop
Subject Area
Materials Engineering
Term
Funded in 2016
Project identifier
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 328616250
Das beantragte Gerät erweitert die am Standort Kaiserslautern verfügbaren Möglichkeiten der analytischen Rasterelektronenmikroskopie, insbesondere der hochaufgelösten 3-D Gefügecharakterisierung substantiell. So wird erstmalig die Gefügeanalyse anhand REM-Aufnahmen, der lokalen chemischen Zusammensetzung mittels EDX und der Kornorientierungsverteilung / Missorientierung aufgrund plastischer Verformung über EBSD in einem Arbeitsschritt an derselben Position in Volumina bis ca. 30 µm Kantenlänge ermöglicht. Neben der Stärkung substantieller, aktuell erfolgreicher und für die Zukunft tragfähiger Forschungsthemen der nutzenden Arbeitsgruppen werden mit dem SFB 926, dem SFB/TRR173 und dem GRK 1932 drei am Standort verankerte koordinierte Großprojekte und der in Kaiserslautern etablierte materialkundliche Forschungsschwerpunkt massiv von der Beschaffung profitieren. Ferner wird die Beschaffung akute Kapazitätsengpässe für Zielpräparationen von TEM-Lamellen mittels FIB deutlich mindern. Durch die Konfiguration des beantragten Geräts, insbesondere die Möglichkeit des Abtrags mittels Ionenstrahl und REM-Aufnahmen bei jeweils kleinsten Strahlströmen und Beschleunigungsspannungen ist die Anwendung für eine breite Materialpalette von Metallen bis hin zu Polymermatrix-Verbundwerkstoffen sichergestellt.
DFG Programme
Major Research Instrumentation
Major Instrumentation
Zweistrahl-Rasterelektronenmikroskop
Instrumentation Group
5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
Applicant Institution
Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau
