Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

• Fachliche Zuordnung: Mineralogie, Petrologie und Geochemie
• Förderung: Förderung in 2014
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 257745926

„Ein Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-REM) erlaubt es, Proben dreidimensional mit Mikrometerauflösung unter gleichzeitiger Beobachtung zu bearbeiten. Das BGI führt Hochdruckforschung in einem Grenzbereich durch, wo die produzierten Proben extrem klein (<10 Mikrometer) und nur noch mit einem FIB-REM für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop (TEM) präparierbar sind. Im FIB-REM werden exakt orientierte Proben aus spezifischen Bereichen eines experimentellen Produkts extrahiert und kontrolliert bis auf Elektronentransparenz heruntergedünnt. Darüber hinaus erfordern viele experimentelle Ansätze in der Diamantstempel-Presse sorgfältig präparierte Ausgangsproben mit exakten Dimensionen, die nur mithilfe des FIB-REM produziert werden können. Da sich die Forschungsfront im Hochdruckbereich zu immer höheren Drucken bzw. kleineren Probenvolumen hinbewegt, wird die Probenpräparation mit konventionellen Methoden praktisch unmöglich. Um daher im Wettbewerb in der Hochdruckforschung bestehen zu können, ist der Zugang zu einem FIB-REM für das BGI unabdinglich, da es keine derartige Anlage direkt zur Verfügung hat.“

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
• Gerätegruppe: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Antragstellende Institution: Universität Bayreuth
• Leiter: Professor Dr. Daniel J. Frost