Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

• Subject Area: Production Technology
• Term: Funded in 2014
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 246538497

'Durch ihre Forschungsschwerpunkte und ihre strukturelle Zusammenarbeit ergeben sich zwischen dem Lehrstuhl für Photonische Technologien (LPT) und dem Lehrstuhl für Fertigungstechnologie (LFT) zahlreiche Anknüpfungspunkte für Kooperationen. Beide Lehrstühle besitzen Arbeitsschwerpunkte, welche die Analyse von Struktur und Zusammensetzung verschiedenster Materialien erfordern. Laufende Projekte am LPT beschäftigen sich mit Themen wie der Erzeugung von Sub-100-nm-Strukturen mittels Ultrakurzpulslasern oder der Laserkonsolidierung von Nanopartikeln. Aktuelle Forschungsschwerpunkte am LFT behandeln Themen wie die Charakterisierung von Materialdefekten zur Identifikation der Versagensmechanismen verschiedener Bauteile. Hier stellt die Analyse von Gefügestrukturen auf der Nanoebene hohe Anforderungen an die Analysegeräte. Durch den Trend zur Miniaturisierung werden sich auch zukünftig die Forschungsaktivitäten in Richtung Mikro- und Nanobearbeitung bewegen. Folglich ist die Anschaffung eines Hochleistungs-Elektronenmikroskops mit umfangreichen Analysemethoden für aktuelle und zukünftige Projekte beider Lehrstühle unabdingbar, da die an der Universität bereits vorhandenen und geeigneten Anlagen vollständig ausgelastet sind. Eine gemeinsame Nutzung garantiert eine effiziente Verwendung des Gerätes.'

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Major Instrumentation: Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
• Instrumentation Group: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Applicant Institution: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
• Leader: Professor Dr.-Ing. Michael Schmidt