Test fehlertoleranter nanoelektronischer Systeme

• Applicant: Professorin Dr. Sybille Hellebrand
• Subject Area: Electronic Semiconductors, Components and Circuits, Integrated Systems, Sensor Technology, Theoretical Electrical Engineering
• Term: from 2006 to 2014
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 22320686

Parameterschwankungen und eine erhöhte Anfälligkeit gegenüber externen Störeinflüssen müssen bei nanoelektronischen Schaltungen und Systemen durch einen robusten Entwurf abgefangen werden. Neben klassischen fehlertoleranten Architekturen gewinnen hier adaptive und selbstkalibrierende Systeme, die dynamisch auf veränderte Bedingungen reagieren können, zunehmend an Bedeutung. Die Qualitätssicherung für solche robusten Systeme ist mit einer Reihe von Herausforderungen verbunden, die mit konventionellen Testverfahren nur schwer oder gar nicht zu bewältigen sind. Im Rahmen des Projekts RoSy sollen deshalb neue Teststrategien für den On- und Offline Test robuster Systeme entwickelt werden. Dabei müssen die Teststrategien für den Produktionstest einerseits zwischen kritischen permanenten Defekten und im Systembetrieb kompensierbaren Fehlern unterscheiden, um unnötige Ausbeuteverluste zu vermeiden. Wenn andererseits durch eingebaute Redundanz bereits Produktionsfehler maskiert werden, muss die verbleibende Robustheit im Systembetrieb bewertet werden („Quality Binning“). Ähnlich müssen Verfahren zur Online-Überwachung so erweitert werden, dass zwischen neuen kritischen Fehlern wie z. B. Alterungsdefekten und kompensierbaren transienten Fehlern unterschieden wird. Zur Unterstützung von adaptiven und selbstkalibrierenden Architekturen sollen effiziente Verfahren zur Online-Charakterisierung von Fehlerraten und Parameterschwankungen entwickelt werden.

• DFG Programme: Research Grants