Rasterkraftmikroskop
Final Report Abstract
Das Rasterkraftmikroskop wurde überwiegend zur morphologischen Basischarakterisierung von Halbleiterquantenpunktstrukturen, bzw. nanostrukturierten Materialien, wie z.B. nanokristalline Diamantschichten, verwendet. Diese Untersuchungen sind maßgeblich für die Entwicklung und Optimierung von epitaktisch hergestellten Quantenpunktstrukturen, die sowohl als Einzelstrukturen für die Quantenkommunikationstechnologie bzw. als Quantenpunktschicht hoher Dichte in Halbleiterlasern für optische Kommunikationsanwendungen. Mit diesen Arbeiten konnten neue Materialeigenschaften realisiert werden, die z.B. auf InP-basierenden Materialien einen Durchbruch in der Anwendung von nanostrukturierten Halbleitern in optoelektronischen Bauelementen ermöglichten. Ebenso konnten erste Einzelphotonenquellen für den Telekommunikations-Wellenlängenbereich realisiert werden. Im Bereich der nanokristallinen Diamantschichten konnten biokompatible Oberflächen hergestellt werden, die es erstmals erlauben Neuronen in vitro mit hoher Überlebensrate an Elektrodenarrays anzubinden. Zudem konnten in nanostrukturierten Diamantsäulen Farbstoffzentren (z.B. Stickstoff oder Si-Fehlstellenzentren) mit hoher Abstrahleffizienz realisiert werden, die vielversprechende Ansätze in der Quantentechnologie erwarten lassen.
Publications
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