Rasterkraftmikroskop

• Subject Area: Condensed Matter Physics
• Term: Funded in 2011
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 206703048

Das Rasterkraftmikroskop ist ein zentrales Analysetool für die morphologische und oberflächen-funktionale Charakterisierung von nanostrukturierten Materialien am Institut für Nanostruktur¬technologie und Analytik (INA). Das neu zu beschaffende Gerät soll durch die Kombination von hoher Ortsauflösung bei der Oberflächenrasterung (AFM, MFM bzw. STM Modi) und der hochgenauen Positionskontrolle des Rasterortes relativ zu Justagemarken erstmals eine direkte Zuordnung von Nanoobjekten zu makroskopischen Strukturen, wie z.B. optoelektronischen, bzw. magneto-optischen Bauelementen, ermöglichen. Dazu soll ein Gerät angeschafft werden, dass über mindestens 150 mm Verfahrweg die Rasterposition reproduzierbar mit einer Genauigkeit von <= 1 um zulässt. Damit soll es ermöglicht werden analog zu einer bereits vorhandenen Mikro- Photolumineszenzanlage mit vergleichbarer Ortsgenauigkeit optische und morphologische Eigenschaften von einem bestimmten Nanoobjekt (z.B. einem Quantenpunkt in einer Mikrokavität) vergleichen zu können.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Instrumentation Group: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Applicant Institution: Universität Kassel
• Leader: Professor Dr. Johann Peter Reithmaier