Normal-incidence-Photoemissions-Elektronenmikroskop

• Subject Area: Condensed Matter Physics
• Term: from 2009 to 2010
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 145430150

Das beantragte Normal-incidence-Photoemissions-Elektronenmikroskop (NI-PEEM) sowie das dazugehörige AFM(MFM)/STM mit Probenpräparation eröffnet einen neuen Zugang zum Feld der ultraschnellen Nano-Optik. Als Option bietet das NI-PEEM die Kombination von Orts- und Zeitauflösung mit der einmaligen Möglichkeit des senkrechten Lichteinfalls. Durch die Kombination mit einem AFM(MFM)/STM können plasmonische Strukturen auf Nanometerskala charakterisiert sowie die Auswirkungen von fs-Laserpulsen auf magnetische Zustände untersucht werden. Das beantragte Gerät ist notwendig, um folgende Themenschwerpunkte bearbeiten zu können: 'Spectroscopy and dynamics of electron excitations of supported metal clusters' und 'Ultrafast All-Optical Magnetization Reversal for Magnetic Recording and Laser- Controlled Spintronics' sowie 'Ultrafast Nanooptics'.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Instrumentation Group: 5130 Sonstige spezielle Elektronenmikroskope
• Applicant Institution: Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau
• Leader: Professor Dr. Martin Aeschlimann