Rasterkraftmikroskop

• Subject Area: Polymer Research
• Term: Funded in 2009
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 142685998

Für die geplanten Forschungsprojekte zur Strukturbildung über mehrere Längenskalen und zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften (Charakterisierung von Oberflächenstrukturen, Messung von Adhäsions- und Reibungskräften sowie zur Bestimmung von strukturellen Änderungen durch äußere Einflüsse auf verschiedenen Längenskalen) wird ein entsprechendes Rasterkraft-Mikroskop benötigt, das es auch erlaubt, unter gezielt veränderten und kontrollierbaren äußeren Bedingungen (Flüssigkeitsumgebung, Temperatur, Feuchtigkeitskontrolle) zu arbeiten. Eine weitreichende Anpassungsfähigkeit und Flexibilität des Gerätes und die Möglichkeit einer benutzerbestimmten Programmierung des Messprozesses stellen Hauptkriterien dar. Das Gerät muss mit Hochleistungs-Aufrechtmikroskopie kombinierbar sein. Optische Messungen auf intransparenten Proben müssen mit AFM reproduzierbar überlagert werden können (typischer Wert: +/- 3 µm).

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Instrumentation Group: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Applicant Institution: Albert-Ludwigs-Universität Freiburg
• Leader: Professor Dr. Günter Reiter